Das Rasterelektronenmikroskop dient zur Dokumentation von Oberflächen und Materialgefügen mit sehr hoher Auflösung und Schärfentiefe.
Die Kombination des REM mit der Röntgenmikroanalyse (EDX) eröffnet ein weites Betätigungsfeld für Forschung und Industrie. Die MSA GmbH bietet Ihnen rasche und kompetente Hilfe für Ihre Anliegen. Die Bearbeitung Ihrer Proben erfolgt im analytischen Bereich mit einem FEI XL30ESEM REM im rein topografischen Bereich mit einem ZEISS DSM962 REM.
Diese Untersuchungen können wir Ihnen anbieten: - Oberflächenmorphologie - Bruchdiagnostik - Gefüge-Analyse - Darstellung von Schichten und Schichtstrukturen und deren Vermessung - Materialvergleiche - Partikelanalyse - Korngrößenvermessung - Untersuchung von Einschlüssen und Korrosion - Verschleißuntersuchung und Materialabtrag - Serienuntersuchungen für die Qualitätssicherung - Untersuchung von Organischen Material - Produktwerbung und Presse - Untersuchungsergebnisse auf CD DVD oder Datenträger ihrer Wahl
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